DIN 51456 Testing of materials for semiconductor technology - Surface analysis of silicon wafers by multielement determination in aqueous analysis solutions using mass spectrometry with inductively coupled plasma (ICP-MS)
Ссылается на
- В списке элементов: 5
- DIN 51401 Beiblatt 1 Atomic absorption spectrometry (AAS) - Terms; Supplement 1: ExplanationsАтомно-абсорбционную спектрометрию (ПОЕДАЙ) - понятия; приложение 1: Комментарии
Карточка документа - DIN 50451-5 Testing of materials for semiconductor technology - Determination of trace elements in liquids - Part 5: Guideline for the selection of materials and testing of their suitability for apparatus for sampling and sample preparation for the determination of trace elements in the range of micrograms per kilogram and nanograms per kilogramПроверка материалов для полупроводниковой технологии - определение следов элемента в жидкостях - часть 5: Направляющая линия на выбор материалов и проверки ее пригодности для устройств к Probenahme и подготовке образцов к испытанию для определения следа элемента в области микрограмма за килограмм и нанограмм за килограмм
Карточка документа - DIN 51002-1 Inductively coupled plasma mass spectrometry (ICP-MS) - Part 1: Principles and definitionsМасс-спектрометрия с индуктивно соединенной плазмой (МИСС ICP) - часть 1: Общие основы и понятия
Карточка документа - DIN ISO 5725-2 Accuracy (trueness and precision) of measurement methods and results - Part 2: Basic method for the determination of repeatability and reproducibility of a standard measurement method (ISO 5725-2:1994 including Technical Corrigendum 1:2002)Точность (верность и точность) измерительных методов и результатов - Часть 2: Основной метод для определения воспроизводимости и воспроизводимости стандартного измерительного метода (ISO, 5725-2:1994 включая Техническое Исправление 1:2002)
Карточка документа - ISO 5725-2 Accuracy (Trueness and Precision) of Measurement Methods and Results - Part 2: Basic Method for the Determination of Repeatability and Reproducibility of a Standard Measurement Method First Edition; - Technical Corrigendum 1: 5/15/2002Точность (Верность и точность) измерительных методов и результатов - часть 2: основной метод для определения воспроизводимости и воспроизводимости стандартного измерительного метода первый выпуск; - техническое исправление 1: 15.05.2002
На основе ISO 5725-2 разработан ГОСТ Р ИСО 5725-2-2002 (IDT)ГОСТ Р ИСО 5725-2-2002 (IDT)
