IEC 60512-25-3 Connectors for Electronic Equipment - Test and Measurements - Part 25-3: Test 25c - Rise Time Degradation - Edition 1.0
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
- Техэксперт: Машиностроительный комплекс
- Картотека зарубежных и международных стандартов
- ISO ISO/IEC 11801 AMD 2 Amendment 2 Information technology – Generic cabling for customer premises - Second Edition
- 35
- ISO ISO/IEC 11801 AMD 1 Amendment 1 Information technology – Generic cabling for customer premises - Second Edition
- CEI EN 60068-1 Environmental testing Part 1: General and guidance
- Картотека зарубежных и международных стандартов
International Electrotechnical Commission
Connectors for Electronic Equipment - Test and Measurements - Part 25-3: Test 25c - Rise Time Degradation - Edition 1.0
N 60512-25-3
Автоматический перевод:
Коннекторы для электронного оборудования - тест и измерения - часть 25-3: тест 25c - ухудшение времени нарастания - выпуск 1.0
Эквиваленты данного стандарта:
- CENELEC EN 60512-25-3 Connectors for Electronic Equipment - Tests and Measurement Part 25-3: Test 25c - Rise Time Degradation
- AENOR UNE-EN 60512-25-3 Connectors for electronic equipment - Tests and measurement -- Part 25-3: Test 25c - Rise time degradation.
Уважаемый пользователь!
Обратитесь к обслуживающему Вас представителю за дополнительной информацией о возможности приобретения документов указанного разработчика и заказа перевода.
