British Standards Institution

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory
 N BS EN 60749-38

Автоматический перевод:

Полупроводниковые устройства - Механические и климатические методы тестирования - Часть 38: метод тестирования Исправимой ошибки для полупроводниковых устройств с памятью

Уважаемый пользователь!

Обратитесь к обслуживающему Вас представителю за дополнительной информацией о возможности приобретения документов указанного разработчика и заказа перевода.