BSI BS EN 62572-3 Fibre optic active components and devices - Reliability standards Part 3: Laser modules used for telecommunication
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
- Техэксперт: Машиностроительный комплекс
- Картотека зарубежных и международных стандартов
- CENELEC CLC/TR 62685 Industrial communication networks - Profiles - Assessment guideline for safety devices using IEC 61784-3 functional safety communication profiles (FSCPs)
- IEC 60721-3-5 Classification of Environmental Conditions Part 3: Classification of Groups of Environmental Parameters and Their Severities - Section 5: Ground Vehicle Installations - Edition 2.0
- BSI BS EN 61582 Radiation protection instrumentation In vivo counters Classification, general requirements and test procedures for portable, transportable and installed equipment
- IEC 60721-3-5 Classification of Environmental Conditions Part 3: Classification of Groups of Environmental Parameters and Their Severities - Section 5: Ground Vehicle Installations - Edition 2.0
- 13
- CENELEC CLC/TR 62685 Industrial communication networks - Profiles - Assessment guideline for safety devices using IEC 61784-3 functional safety communication profiles (FSCPs)
- IEC 60721-3-5 Classification of Environmental Conditions Part 3: Classification of Groups of Environmental Parameters and Their Severities - Section 5: Ground Vehicle Installations - Edition 2.0
- BSI BS EN 61582 Radiation protection instrumentation In vivo counters Classification, general requirements and test procedures for portable, transportable and installed equipment
- IEC 60721-3-5 Classification of Environmental Conditions Part 3: Classification of Groups of Environmental Parameters and Their Severities - Section 5: Ground Vehicle Installations - Edition 2.0
- 13.160
- CENELEC CLC/TR 62685 Industrial communication networks - Profiles - Assessment guideline for safety devices using IEC 61784-3 functional safety communication profiles (FSCPs)
- IEC 60721-3-5 Classification of Environmental Conditions Part 3: Classification of Groups of Environmental Parameters and Their Severities - Section 5: Ground Vehicle Installations - Edition 2.0
- BSI BS EN 61582 Radiation protection instrumentation In vivo counters Classification, general requirements and test procedures for portable, transportable and installed equipment
- IEC 60721-3-5 Classification of Environmental Conditions Part 3: Classification of Groups of Environmental Parameters and Their Severities - Section 5: Ground Vehicle Installations - Edition 2.0
- CENELEC CLC/TR 62685 Industrial communication networks - Profiles - Assessment guideline for safety devices using IEC 61784-3 functional safety communication profiles (FSCPs)
- CENELEC CLC/TR 62685 Industrial communication networks - Profiles - Assessment guideline for safety devices using IEC 61784-3 functional safety communication profiles (FSCPs)
- 35
- CENELEC CLC/TR 62685 Industrial communication networks - Profiles - Assessment guideline for safety devices using IEC 61784-3 functional safety communication profiles (FSCPs)
- IEC 60721-3-5 Classification of Environmental Conditions Part 3: Classification of Groups of Environmental Parameters and Their Severities - Section 5: Ground Vehicle Installations - Edition 2.0
- BSI BS EN 61582 Radiation protection instrumentation In vivo counters Classification, general requirements and test procedures for portable, transportable and installed equipment
- IEC 60721-3-5 Classification of Environmental Conditions Part 3: Classification of Groups of Environmental Parameters and Their Severities - Section 5: Ground Vehicle Installations - Edition 2.0
- 35.100
- CENELEC CLC/TR 62685 Industrial communication networks - Profiles - Assessment guideline for safety devices using IEC 61784-3 functional safety communication profiles (FSCPs)
- IEC 60721-3-5 Classification of Environmental Conditions Part 3: Classification of Groups of Environmental Parameters and Their Severities - Section 5: Ground Vehicle Installations - Edition 2.0
- BSI BS EN 61582 Radiation protection instrumentation In vivo counters Classification, general requirements and test procedures for portable, transportable and installed equipment
- IEC 60721-3-5 Classification of Environmental Conditions Part 3: Classification of Groups of Environmental Parameters and Their Severities - Section 5: Ground Vehicle Installations - Edition 2.0
- CENELEC CLC/TR 62685 Industrial communication networks - Profiles - Assessment guideline for safety devices using IEC 61784-3 functional safety communication profiles (FSCPs)
- CENELEC CLC/TR 62685 Industrial communication networks - Profiles - Assessment guideline for safety devices using IEC 61784-3 functional safety communication profiles (FSCPs)
- BSI BS EN 61582 Radiation protection instrumentation In vivo counters Classification, general requirements and test procedures for portable, transportable and installed equipment
- BSI BS EN 60068-2-6 Environmental testing - Part 2-6: Tests - Test Fc: Vibration (sinusoidal)
- BSI BS EN 60079-29-1 Explosive atmospheres - Part 29-1: Gas detectors - Performance requirements of detectors for flammable gases - CORR: June 30, 2011
- BSI PD IEC/TR 62721 Reliability of devices used in fibre optic systems - General and guidance
- BSI PD IEC/TR 62572-2 Fibre optic active components and devices - Reliability standards - Part 2: Laser module degradation
- CENELEC CLC/TR 62685 Industrial communication networks - Profiles - Assessment guideline for safety devices using IEC 61784-3 functional safety communication profiles (FSCPs)
- Картотека зарубежных и международных стандартов
Ссылается на
- В списке элементов: 20
- DLA MIL-STD-883K CHANGE 2 TEST METHOD STANDARD MICROCIRCUITSМИКРОСХЕМЫ СТАНДАРТА МЕТОДА ТЕСТИРОВАНИЯ
Карточка документа - CENELEC EN 60749-26 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM)Полупроводниковые устройства - Механические и климатические методы тестирования - Часть 26: Электростатический разряд (ESD) тестирование чувствительности - Модель человеческого тела (HBM)
Карточка документа - IEC 60749-26 Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing – Human body model (HBM) - Edition 3.0Полупроводниковые устройства – Механические и климатические методы тестирования – Часть 26: Электростатический разряд (ESD) тестирование чувствительности – Модель человеческого тела (HBM) - Выпуск 3.0
Карточка документа - IEC 60747-1 Semiconductor devices – Part 1: General - Edition 2.1 Consolidated ReprintПолупроводниковые устройства – Часть 1: Общий - Выпуск 2.1 Объединенная Перепечатка
Карточка документа - CENELEC EN 60068-2-14 Environmental testing - Part 2-14: Tests - Test N: Change of temperatureИспытания на воздействия окружающих условий - Часть 2-14: Тесты - Тест N: Изменение температуры
Карточка документа - IEC 60068-2-14 Environmental testing – Part 2-14: Tests – Test N: Change of temperature - Edition 6.0Испытания на воздействия окружающих условий – Часть 2-14: Тесты – Тест N: Изменение температуры - Издание 6.0
На основе IEC 60068-2-14 разработаны ГОСТ Р 51368-2011 (NEQ); ГОСТ 30630.2.1-2013 (NEQ)ГОСТ 30630.2.1-2013 (NEQ) - IEC TR 62572-2 Fibre optic active components and devices – Reliability standards – Part 2: Laser module degradation - Edition 1.0Волоконно-оптические активные компоненты и устройства – стандарты Надежности – Часть 2: ухудшение Лазерного модуля - Выпуск 1.0
Карточка документа - CENELEC EN 60068-2-1 Environmental testing - Part 2-1: Tests - Test A: ColdИспытания на воздействия окружающих условий - Часть 2-1: Тесты - Тест A: Холод
Карточка документа - IEC 60068-2-1 Environmental testing – Part 2-1: Tests – Test A: Cold - Edition 6.0Испытания на воздействия окружающих условий – Часть 2-1: Тесты – Тест A: Холод - Издание 6.0
На основе IEC 60068-2-1 разработаны ГОСТ Р МЭК 60068-2-1-2009 (IDT); ГОСТ Р 51368-2011 (NEQ); ГОСТ 30630.2.1-2013 (NEQ)ГОСТ 30630.2.1-2013 (NEQ) - CENELEC EN 60749-25 Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods Part 25: Temperature cyclingПолупроводниковые устройства Механическая и климатическая Часть 25 методов тестирования: Температурное циклическое повторение
Карточка документа - IEC 60749-12 CORR 1 SEMICONDUCTOR DEVICES – MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS – Part 12: Vibration, variable frequency CORRIGENDUM 1 - Edition 1.0SEMICONDUCTOR DEVICES – MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS – Часть 12: Вибрация, переменная частота CORRIGENDUM 1 - Выпуск 1.0
Карточка документа - IEC 60749-10 CORR 1 Semiconductor Devices - Mechanical and Climatic Test Methods - Part 10: Mechanical Shock CORRIGENDUM 1 - Edition 1.0Полупроводниковые устройства - механические и климатические методы тестирования - часть 10: механический CORRIGENDUM 1 шока - выпуск 1.0
Карточка документа - IEC 60749-8 CORR 2 SEMICONDUCTOR DEVICES – MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS – Part 8: Sealing CORRIGENDUM 2 - Edition 1.0SEMICONDUCTOR DEVICES – MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS – часть 8: изоляция CORRIGENDUM 2 - выпуск 1.0
Карточка документа - IEC 60749-11 CORR 2 Semiconductor Devices - Mechanical and Climatic Test Methods - Part 11: Rapid Change of Temperature - Two-Fluid-Bath Method CORRIGENDUM 2 - Edition 1.0Полупроводниковые устройства - механические и климатические методы тестирования - часть 11: быстрое изменение температуры - метода CORRIGENDUM 2 с двумя Жидкими Ваннами - выпуск 1.0
Карточка документа - IEC 60749-25 Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods Part 25: Temperature cycling - Edition 1.0Полупроводниковые устройства Механическая и климатическая Часть 25 методов тестирования: циклическое повторение Температуры - Выпуск 1.0
Карточка документа - CENELEC EN 60749-8 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods Part 8: SealingПолупроводниковые устройства - Механическая и климатическая Часть 8 методов тестирования: Изоляция
Карточка документа - CENELEC EN 60749-10 Semiconductor Devices - Mechanical and Climatic Test Methods Part 10: Mechanical ShockПолупроводниковые устройства - механическая и климатическая часть 10 методов тестирования: механический шок
Карточка документа - CENELEC EN 60749-12 Semiconductor Devices Mechanical and Climatic Test Methods Part 12: Vibration, Variable FrequencyПолупроводниковые устройства механическая и климатическая часть 12 методов тестирования: вибрация, переменная частота
Карточка документа - CENELEC EN 60749-11 Semiconductor Devices Mechanical and Climatic Test Methods Part 11: Rapid Change of Temperature Two-Fluid-Bath MethodПолупроводниковые устройства механическая и климатическая часть 11 методов тестирования: быстрое изменение температурного метода с двумя Жидкими Ваннами
Карточка документа - CENELEC EN 60749-6 Semiconductor Devices Mechanical and Climatic Test Methods Part 6: Storage at High TemperatureПолупроводниковые устройства механическая и климатическая часть 6 методов тестирования: устройство хранения данных при высокой температуре
Карточка документа
