0 продуктов

Авторизация

ASTM E2530 Standard Practice for Calibrating the Z-Magnification of an Atomic Force Microscope at Subnanometer Displacement Levels Using Si (111) Monatomic Steps

Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:

 

ASTM International

Standard Practice for Calibrating the Z-Magnification of an Atomic Force Microscope at Subnanometer Displacement Levels Using Si (111) Monatomic Steps
 N E2530

 

Annotation

 

This practice covers a measurement procedure to calibrate the ?-scale of an atomic force microscope using Si (111) monatomic step height specimens.

Applications—This procedure is applicable either in ambient or vacuum condition when the atomic force microscope (AFM) is operated at its highest levels of ?-magnification, that is, in the nanometer and sub-nanometer ranges of ?-displacement. These ranges of measurement are required when the AFM is used to measure the surfaces of semiconductors, optical surfaces, and other high technology components.

The values stated in SI units are to be regarded as the standard. The values given in parentheses are for information only.

This standard does not purport to address all of the safety concerns, if any, associated with its use. It is the responsibility of the user of this standard to establish appropriate safety and health practices and determine the applicability of regulatory limitations prior to use

 

Автоматический перевод:

 

Утвержденный технологический процесс для калибровки Z-усиления атомного микроскопа силы на уровнях смещения подмиллимикрона Используя СИ (111) одноатомные шаги

Эта практика покрывает измерительную процедуру для калибровки -scale атомарного микроскопа силы с помощью Сайа (111) одноатомные экземпляры высоты шага.

Категории продуктов

 

 

 

Знакомьтесь, "Техэксперт"

 Техэксперт для iPad

 Для Android

АКЦИЯ!

Бесплатный доступ