0 продуктов

Авторизация

DS DS/ISO 17867 Particle size analysis - Small-angle X-ray scattering

Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:

 

DANSK - Dansk Standard

Particle size analysis - Small-angle X-ray scattering
 N DS/ISO 17867

 

Annotation

 

Small-angle X-ray scattering (SAXS) is a well-established technique that allows structural information to be obtained about inhomogeneities in materials with a characteristic length from 1 nm to 100 nm. Under certain conditions (narrow size distributions, appropriate instrumental configuration, and idealised shape) the limit of 100 nm can be significantly extended. ISO 17687:2015 specifies a method for the application of SAXS to the estimation of mean particle sizes in dilute dispersions where the interaction between the particles is negligible. This International Standard allows two complementary data evaluation methods to be performed, model fitting and Guinier approximation. The most appropriate evaluation method shall be selected by the analyst and stated clearly in the report. SAXS is sensitive to electron density fluctuations. Therefore, particles in solution and pores in a matrix can be studied in same way.

 

Автоматический перевод:

 

Анализ размера частиц - рассеивание рентгена Маленького угла

Рассеивание рентгена маленького угла (SAXS) является известным методом, который позволяет структурной информации быть полученной о неоднородности в материалах с характерной длиной от 1 нм до 100 нм. При определенных условиях (узкие распределения размера, надлежащая инструментальная конфигурация и идеализированная форма) может быть значительно расширен предел 100 нм. ISO 17687:2015 определяет метод для применения SAXS к оценке средних размеров частиц в разведенной дисперсии, где взаимодействие между частицами незначительно. Этот Международный стандарт позволяет двум дополнительным методам оценки данных выполняться, адаптация модели и приближение Guinier. Самый надлежащий метод оценки должен быть отобран аналитиком и четко дан понять в отчете. SAXS чувствителен к колебаниям электронной плотности. Поэтому частицы в решении и поры в матрице могут быть изучены тем же способом.

Категории продуктов

 

 

 

Знакомьтесь, "Техэксперт"

 Техэксперт для iPad

 Для Android

АКЦИЯ!

Бесплатный доступ