4 Типы измеряемых помех

• 4.1 Общие положения

• 4.2 Типы помех

• 4.3 Функции детектора

6 Основные требования к измерениям и условия измерений

• 6.1 Общие положения

• 6.2 Помехи, не создаваемые ИО

• 6.3 Измерение непрерывных помех

• 6.4 Размещение ИО и условия измерения

• 6.5 Интерпретация результатов измерений

• 6.6 Время измерения и скорости сканирования непрерывных помех

  • Рисунок 1 - Измерение комбинации сигнала непрерывной волны (узкополосного, NB) и импульсного сигнала (широкополосного, BB) с использованием многократных разверток при максимальном удержании

  • Рисунок 2 - Пример временного анализа

  • Рисунок 3 - Широкополосный спектр, измеренный пошаговым приемником

  • Рисунок 4 - Перемежающиеся узкополосные помехи, измеренные с помощью коротких быстрых повторяющихся разверток с функцией максимального удержания для получения картины спектра электромагнитной эмиссии

  • Рисунок 20 - Сканирование устройством с обработкой информации на базе быстрого преобразования Фурье в сегментах

  • Рисунок 21 - Улучшение частотного разрешения устройством с обработкой информации на базе быстрого преобразования Фурье

7 Измерение излучаемых помех

• 7.1 Вводные замечания

• 7.2 Измерения в системе рамочных антенн (9 кГц - 30 МГц)

  • Рисунок 5 - Принцип измерений тока, наводимого магнитным полем, проводимых в системе рамочных антенн (LAS)

• 7.3 Измерения на открытой испытательной площадке или в полубезэховой камере (30 МГц - 1 ГГц)

  • Рисунок 6 - Принцип измерений напряженности электрического поля, проводимых на открытой испытательной площадке (OATS) или в полубезэховой камере (SAC), когда на приемную антенну приходят прямой и отраженный лучи

  • Рисунок 22 - Положение CMAD при настольном ИО на OATS или в SAC

• 7.4 Измерения в полностью безэховой камере (FAR) (30 МГц - 1 ГГц)

  • Рисунок 7 - Геометрия типовой испытательной площадки в полностью безэховой камере (FAR) (a, b, c и e зависят от характеристики камеры)

  • Рисунок 8 - Типовая испытательная установка для настольного ИО в испытательном объеме полностью безэховой камеры (FAR)

  • Рисунок 9 - Типовая испытательная установка для напольного ИО в испытательном объеме полностью безэховой камеры (FAR)

• 7.5 Метод измерения излучаемой электромагнитной эмиссии (30 МГц - 1 ГГц) и метод испытания на помехоустойчивость по отношению к излучаемым помехам (80 МГц-1 ГГц) при использовании общей испытательной установки в полубезэховой камере

  • Рисунок 10 - Положение опорных плоскостей при калибровке однородного поля (вид сверху)

  • Рисунок 11 - Испытательная установка для настольного оборудования

  • Рисунок 12 - Испытательная установка для настольного оборудования (вид сверху)

  • Рисунок 13 - Испытательная площадка для напольного оборудования

  • Рисунок 14 - Испытательная установка для напольного оборудования (вид сверху)

• 7.6 Измерения в полностью безэховой камере (FAR) и на открытой испытательной площадке (OATS)/в полубезэховой камере (SAC), покрытых поглощающим материалом (1-18 ГГц)

  • Рисунок 15 - Метод измерения на частоте выше 1 ГГц, вертикальная поляризация приемной антенны

  • Рисунок 16 - Иллюстрация требований к сканированию по высоте для двух разных категорий ИО

• 7.7 Измерения на месте установки (9 кГц - 18 ГГц)

  • Рисунок 17 - Определение переходного расстояния

• 7.8 Измерения методом замещения (30 МГц - 18 ГГц)

  • Рисунок 18 - Геометрия испытательной установки при методе замещения

• 7.9 Измерения в реверберационной камере (80 МГц - 18 ГГц)

• 7.10 Измерения в ТЕМ-волноводе (30 МГц - 18 ГГц)

8 Автоматизированные измерения электромагнитной эмиссии

• 8.1 Введение. Основные положения проведения автоматизированных измерений

• 8.2 Общая процедура измерения

  • Рисунок 19 - Процесс, обеспечивающий уменьшение времени измерения

• 8.3 Измерение с предварительным сканированием

• 8.4 Сжатие данных

• 8.5 Максимизация электромагнитной эмиссии и заключительное измерение

• 8.6 Последующая обработка и составление отчета об испытаниях

• 8.7 Стратегии измерения электромагнитной эмиссии измерительными приборами с обработкой информации на базе быстрого преобразования Фурье

Приложение А (справочное). Измерение помех при наличии внешней электромагнитной эмиссии

• Рисунок А.1 - Алгоритм выбора ширины полосы и типа детектора и оцененные погрешности измерений при таком выборе

• Рисунок А.2 - Относительная разница в амплитудах излучения на граничных частотах при проведении предварительного испытания

• Рисунок А.3 - Помеха, создаваемая немодулированным сигналом (точечная кривая)

• Рисунок А.4 - Помеха, создаваемая AM сигналом (точечная кривая)

• Рисунок А.5 - Показание AM сигнала в функции от частоты модуляции при квазипиковом детекторе в диапазонах В, С и D CISPR

• Рисунок А.6 - Показание импульсно-модулированного сигнала (ширина импульса 50 мкс) в функции от частоты повторения импульсов при пиковом, квазипиковом детекторах и детекторе средних значений

• Рисунок А.7 - Помеха, создаваемая широкополосным сигналом (точечная кривая)

• Рисунок А.8 - Немодулированная помеха от ИО (точечная кривая)

• Рисунок А.9 - Амплитудно-модулированная помеха от ИО (точечная кривая)

• Рисунок А.10 - Увеличение пикового значения при суперпозиции двух немодулированных сигналов

• Рисунок A.11 - Определение амплитуды мешающего сигнала с помощью амплитудного соотношения d и коэффициента i [см. уравнения (А.3) и (А.6)]

• Рисунок А.12 - Увеличение среднего показания, измеренного с реальным приемником и рассчитанного по уравнению (А.8)

Приложение С (справочное). Скорости сканирования и время измерения при использовании детектора средних значений

• Рисунок С.1 - Весовая функция импульса 10 мс при детектировании пиковым детектором (РК) и детектором средних значений при показании в пиковых значениях (CISPR AV) и показании не в пиковых значениях (AV): постоянная времени прибора 160 мс

• Рисунок С.2 - Весовая функция импульса 10 мс при детектировании пиковым детектором (РК) и детектором средних значений при показании в пиковых значениях (CISPR AV) и показании не в пиковых значениях (AV): постоянная времени прибора 100 мс

• Рисунок С.3 - Пример весовых функций (импульс 1 Гц) при детектировании пиковым детектором (РК) и детектором средних значений в функции от ширины импульса: постоянная времени прибора 160 мс

• Рисунок С.4 - Пример весовых функций (импульс 1 Гц) при детектировании пиковым детектором (РК) и детектором средних значений в функции от ширины импульса: постоянная времени прибора 100 мс

Приложение D (справочное). Разъяснение метода измерения распределения амплитудной вероятности (APD) применительно к испытанию на соответствие нормам

• Рисунок D.1 - Пример измерения APD для флюктуирующих помех по методу 1

• Рисунок D.2 - Пример измерения APD для флюктуирующих помех по методу 2