3 Термины и определения

• 3.1 Общие термины

  • Рисунок 1 - связи между S-фильтром, L-фильтром, F-операцией, а также S-F и S-L поверхностями

• 3.2 Термины геометрических параметров

• 3.3 Термины геометрических признаков

4 Определения параметров поля

• 4.1 Параметры высоты

• 4.2 Пространственные параметры

  • Рисунок 2 - Процедура расчета Sal и Str

• 4.3 Гибридные параметры

• 4.4 Функции и связанные с ними параметры

  • Рисунок 3 - Коэффициент смятия ареала

  • Рисунок 4 - Обратный коэффициент смятия ареала

  • Рисунок 5 - Расчет значений Sk, Smr1 и Smr2

  • Рисунок 6 - Кривая вероятности коэффициента смятия ареала

  • Рисунок 7 - Поверхность ограниченного масштаба и соответствующая кривая вероятности смятия ареала, а также области, использованные при определении параметров Spq, Svq и Smq

  • Рисунок 8 - Параметры объема пустот и объема материала

  • Рисунок 9 - Пример функции градиента плотности

  • Рисунок 10 - Самый крутой градиент альфа , и направление самого крутого градиента бета

• 4.5 Различные параметры

5 Определение параметров ареала для стратифицированных функциональных поверхностей ограниченного масштаба

• 5.1 Расчет параметров Sk, Smr1 и Smr2

• 5.2 Расчет эквивалентной прямой линии

• 5.3 Расчет параметров Spk и Svk

• 5.4 Расчет параметров Spq, Svq и Smq

  • Рисунок 11 - Расчет Spk и Svk на основании данных для Rpk и Rvk

6 Описание характеристик

• 6.1 Общие требования

  • Рисунок 12 - Пример иллюстративной поверхности

• 6.2 Тип характеристики структуры

• 6.3 Сегментация

• 6.4 Определение значимых характеристик

  • Рисунок 13 - Горбы, определенные при помощи отсечения Вольфа с использованием 10% Sz

  • Рисунок 14 - Горбы выше порога высоты (коэффициент смятия 50%), показаны соединенные с краем (черные) и не соединенные с краем горбы (белые)

• 6.5 Раздел показателей характеристик

• 6.6 Статистические параметры показателей

• 6.7 Соглашение по описанию характеристик

• 6.8 Названные параметры характеристики

Приложение А (справочное). Сегментация

• Рисунок А.1 - Контурная карта, на которой представлены критические линии и точки

• Рисунки А2-А4 - Три типа дерева изменений

• Рисунок А.5 - Отсечение Вольфа для рисунка А.2

Приложение В (справочное). Фрактальные методы

• Рисунок В.1 - Фрактальный профиль демонстрирует аналогичные структуры при всех масштабах

• Рисунок В.2 - График масштаба-объема для поверхности ограниченного масштаба

• Рисунок В.3 - Теоретический график объема-масштаба, демонстрирующий масштабы перекреста

• Рисунок В.4 - Четыре приема фрагментации изображения по данным анализа относительной площади

• Рисунок В.5 - График относительной площади, включая результаты серийной фрагментации изображений на рисунке В.4

Приложение Е (справочное). Связь с матричной моделью геометрических характеристик изделий (GPS)

• Рисунок Е.1 Расположение в матричной модели GPS