4 Классификация ОИТ

• 4.1 ОИТ класса Б

• 4.2 ОИТ класса А

5 Нормы кондуктивных ИРП на сетевых зажимах и портах связи

• 5.1 Нормы напряжения ИРП на сетевых зажимах

• 5.2 Нормы общего несимметричного напряжения и общего несимметричного тока ИРП на портах связи

6 Нормы излучаемых ИРП

• 6.1 Нормы на частотах не выше 1 ГГц

• 6.2 Нормы на частотах свыше 1 ГГц

7 Интерпретация норм ИРП, установленных СИСПР

• 7.1 Значимость норм СИСПР

• 7.2 Применение норм при испытаниях серийной продукции

8 Общие условия испытаний

• 8.1 Посторонние помехи

• 8.2 Общие требования к размещению

• 8.3 Размещение ИО

• 8.4 Функционирование ИО

9 Метод измерения кондуктивных ИРП на сетевых зажимах и портах связи

• 9.1 Измерительные детекторы

• 9.2 Измерители ИРП

• 9.3 Эквивалент сети электропитания

• 9.4 Пластина заземления

• 9.5 Размещение ИО

• 9.7 Регистрация результатов измерений

10 Метод измерения излучаемых ИРП

• 10.1 Измерительные детекторы

• 10.2 Измерительные приемники на частотах не выше 1 ГГц

• 10.3 Антенна на частотах не выше 1 ГГц

• 10.4 Измерительная площадка на частотах не выше 1 ГГц

• 10.5 Размещение ИО на частотах не выше 1 ГГц

• 10.6 Измерения излучаемых ИРП на частотах выше 1 ГГц

• 10.7 Регистрация результатов измерений

• 10.8 Измерения в присутствии мощных посторонних сигналов

• 10.9 Испытание оборудования на месте установки

11 Неопределенность измерений

• Рисунок 1 - Пример открытой измерительной площадки

• Рисунок 2 - Пример минимальной открытой измерительной площадки

• Рисунок 3 - Минимальный размер металлической пластины заземления

• Рисунок 4 - Размещение ИО: настольное оборудование, измерение кондуктивных и излучаемых ИРП (вид сверху)

• Рисунок 5 - Альтернативное размещение ИО: настольное оборудование, измерение кондуктивных ИРП [вариант 1, способ а)]

• Рисунок 6 - Альтернативное размещение ИО: измерение кондуктивных ИРП [вариант 1, способ b)]

• Рисунок 7 - Альтернативное размещение ИО: настольное оборудование, измерение кондуктивных ИРП на площадке для измерения излучаемых помех (вариант 2)

• Рисунок 8 - Размещение ИО: напольное оборудование, измерение кондуктивных ИРП

• Рисунок 9 - Размещение ИО: комбинация настольного и напольного оборудования, измерение кондуктивных ИРП

• Рисунок 10 - Размещение ИО: настольное оборудование, измерение излучаемых ИРП

• Рисунок 11 - Размещение ИО: напольное оборудование, измерение излучаемых ИРП

• Рисунок 12 - Размещение ИО: напольное оборудование с вертикальными стояками и воздушными кабелями, измерение кондуктивных и излучаемых ИРП

• Рисунок 13 - Размещение ИО: комбинация настольного и напольного оборудования, измерение излучаемых ИРП

Приложение А (обязательное). Определение затухания альтернативных измерительных площадок

• Рисунок А.1 - Типичное расположение антенн при измерении затухания альтернативной измерительной площадки

• Рисунок А.2 - Типичное расположение антенн при измерении затухания альтернативной площадки для минимального рекомендуемого объема

Приложение В (обязательное). Алгоритм принятия решения при измерениях с применением пикового детектора

• Рисунок В.1 - Алгоритм принятия решения при измерениях пиковых значений ИРП

Приложение С (обязательное). Испытательные установки для измерения общего несимметричного напряжения и общего несимметричного тока ИРП

• Рисунок С.1 - Применение УСР, соответствующих требованиям ГОСТ 30804.4.6, в качестве УСР/ЭПСС

• Рисунок С.2 - Применение нагрузки сопротивлением 150 Ом, подключенной к внешней поверхности экрана кабеля

• Рисунок С.З - Применение комбинации из токосъемника и емкостного пробника напряжения

• Рисунок С.4 - Измерения без подключения к экрану кабеля и без применения эквивалента полного сопротивления сети

• Рисунок С.5 - Установка для калибровки

• Рисунок С.6 - Алгоритм выбора методов испытаний

Приложение D (справочное). Схемы образцов эквивалентов полного сопротивления сети

• Рисунок D.1 - ЭПСС для применения с одной неэкранированной симметричной парой

• Рисунок D.2 - ЭПСС с большим значением затухания продольного перехода для применения с одной или двумя неэкранированными симметричными парами

• Рисунок D.3 - ЭПСС с большим значением затухания продольного перехода для применения с одной, двумя, тремя или четырьмя неэкранированными симметричными парами

• Рисунок D.4 - ЭПСС, включающий согласующее сопротивление 50 Ом на порте измерения напряжения, для применения с двумя неэкранированными симметричными парами

• Рисунок D.5 - ЭПСС для применения с двумя неэкранированными симметричными парами

• Рисунок D.6 - ЭПСС, включающий согласующее сопротивление 50 Ом на порте измерения напряжения, для применения с четырьмя неэкранированными симметричными парами

• Рисунок D.7 - ЭПСС для применения с четырьмя неэкранированными симметричными парами

• Рисунок D.8 - ЭПСС, применяемый с коаксиальными кабелями, использующий внутренний дроссель общего несимметричного режима, образованный бифилярной намоткой изолированных проводов, один из которых соединен с центральным проводником, а другой - с экраном к

• Рисунок D.10 - ЭПСС, применяемый с многопроводными экранированными кабелями, использующий внутренний дроссель общего несимметричного режима, образованный бифилярной намоткой из многочисленных изолированных сигнальных проводов и изолированного провода, с

• Рисунок D.11 - ЭПСС, применяемый с многопроводными экранированными кабелями и использующий внутренний дроссель общего несимметричного режима, образованный намоткой многопроводного экранированного кабеля на ферритовые тороиды

Приложение F (справочное). Обоснование методов измерения ИРП на портах связи

• Рисунок F.1 - Основная схема рассмотрения норм при заданном значении общего несимметричного полного сопротивления, равном 150 Ом

• Рисунок F.2 - Основная схема проведения измерений при неизвестном общем несимметричном полном сопротивлении

• Рисунок F.3 - Полные сопротивления элементов (см. рисунок С.2)

• Рисунок F.4 - Установка для измерения полного сопротивления резистора 150 Ом и ферритов