Вы нашли документ, содержащийся в электронной базе документов - "ТЕХЭКСПЕРТ"!
ГОСТ 19656.13-76 Диоды полупроводниковые СВЧ детекторные. Методы измерения тангенциальной чувствительности (с Изменением N 1)
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
- Техэксперт: Электроэнергетика
- Техэксперт: Нормы, правила, стандарты и законодательство России
- Нормы, правила, стандарты и законодательство по техническому регулированию
- ГОСТ 20215-84 Диоды полупроводниковые сверхвысокочастотные. Общие технические условия
- ГОСТ 7948-80 Отвесы стальные строительные. Технические условия
- ГОСТ 8.051-81 (СТ СЭВ 303-76) Государственная система обеспечения единства измерений (ГСИ). Погрешности, допускаемые при измерении линейных размеров до 500 мм
- Все нормы, правила, стандарты
- ГОСТ 20215-84 Диоды полупроводниковые сверхвысокочастотные. Общие технические условия
- ГОСТ 7948-80 Отвесы стальные строительные. Технические условия
- ГОСТ 8.051-81 (СТ СЭВ 303-76) Государственная система обеспечения единства измерений (ГСИ). Погрешности, допускаемые при измерении линейных размеров до 500 мм
- Архив
- СанПиН 2.3.4.545-96 Производство хлеба, хлебобулочных и кондитерских изделий
- Нормы, правила, стандарты и законодательство по техническому регулированию
- Техэксперт: Машиностроительный комплекс
- Нормы, правила, стандарты и законодательство по техническому регулированию
- ГОСТ 20215-84 Диоды полупроводниковые сверхвысокочастотные. Общие технические условия
- ГОСТ 7948-80 Отвесы стальные строительные. Технические условия
- ГОСТ 8.051-81 (СТ СЭВ 303-76) Государственная система обеспечения единства измерений (ГСИ). Погрешности, допускаемые при измерении линейных размеров до 500 мм
- Нормы, правила, стандарты в машиностроении
- ГОСТ 20215-84 Диоды полупроводниковые сверхвысокочастотные. Общие технические условия
- ГОСТ 7948-80 Отвесы стальные строительные. Технические условия
- ГОСТ 8.051-81 (СТ СЭВ 303-76) Государственная система обеспечения единства измерений (ГСИ). Погрешности, допускаемые при измерении линейных размеров до 500 мм
- Нормы, правила, стандарты и законодательство по техническому регулированию
- Техэксперт: Нефтегазовый комплекс
- Все нормы, правила, стандарты
- ГОСТ 20215-84 Диоды полупроводниковые сверхвысокочастотные. Общие технические условия
- ГОСТ 7948-80 Отвесы стальные строительные. Технические условия
- ГОСТ 8.051-81 (СТ СЭВ 303-76) Государственная система обеспечения единства измерений (ГСИ). Погрешности, допускаемые при измерении линейных размеров до 500 мм
- Нормы, правила, стандарты по нефтегазовому комплексу
- Все нормы, правила, стандарты
- Техэксперт: Охрана труда
- Нормативные документы по охране труда
- СанПиН 2.3.4.545-96 Производство хлеба, хлебобулочных и кондитерских изделий
- Нормативные документы по охране труда
- Техэксперт: Экология. Проф
- Система нормативов охраны и рационального использования природных ресурсов
- СанПиН 2.3.4.545-96 Производство хлеба, хлебобулочных и кондитерских изделий
- Законодательство России
- Система нормативов охраны и рационального использования природных ресурсов
- Стройэксперт. "Вариант Лидер"
- Строительное производство и проектирование (технические нормы, правила, стандарты)
- СанПиН 2.3.4.545-96 Производство хлеба, хлебобулочных и кондитерских изделий
- ГОСТ 7948-80 Отвесы стальные строительные. Технические условия
- Строительное производство и проектирование (технические нормы, правила, стандарты)
- Техэксперт: Помощник Проектировщика
- Строительное производство и проектирование (технические нормы, правила, стандарты)
- СанПиН 2.3.4.545-96 Производство хлеба, хлебобулочных и кондитерских изделий
- ГОСТ 7948-80 Отвесы стальные строительные. Технические условия
- Строительное производство и проектирование (технические нормы, правила, стандарты)
- Авиатор
- Техэксперт: Эксплуатация зданий
Ссылается на
- В списке элементов: 5
- Изменение N 1 ГОСТ 19656.13-76 Диоды полупроводниковые СВЧ детекторные. Метод измерения тангенциальной чувствительности
Постановление Госстандарта СССР от 30.10.1986 N 3354ГОСТ от 30.10.1986 N 19656.13-76ИзменениеПрименяется с 01.05.1987 - ГОСТ 18986.14-85 Диоды полупроводниковые. Методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений
Неэквивалентен (NEQ) СТ СЭВ 2769:1980Применяется с 01.07.1986 взамен ГОСТ 18986.14-75, ГОСТ 19656.8-74 - ГОСТ 19656.7-74 (СТ СЭВ 3408-81) Диоды полупроводниковые СВЧ детекторные. Метод измерения чувствительности по току (с Изменениями N 1, 2)
Применяется с 01.07.1975 - ГОСТ 19656.5-74 (СТ СЭВ 3997-83) Диоды полупроводниковые СВЧ смесительные и детекторные. Методы измерения шумового отношения (с Изменением N 1)
Применяется с 01.07.1975 - ГОСТ 19656.0-74 (СТ СЭВ 1622-79, СТ СЭВ 3408-81) Диоды полупроводниковые СВЧ. Методы измерения электрических параметров. Общие положения (с Изменениями 1, 2, 3)
Применяется с 01.07.1975
Скачать документ нельзя - можно заказать Бесплатно! 1 документ
Документ будет отправлен на указанный Вами e-mail в течение 3 рабочих дней*
Часы работы: с Пн по Пт с 8:30 до 17:30 по московскому времени.
или
Посмотреть возможности крупнейшей электронной библиотеки "Техэксперт" - более 8 000 000 документов!
! После демонстрации Вы получите бесплатный доступ к базе данных «Информационный указатель стандартов» или к информационному каналу «Реформа технического регулирования», куда включены не только новые технические регламенты, но также их проекты - предстоящие изменения в области технического регулирования. Ни в одной другой базе данных этого нет!
Подписка на полную версию «Указателя стандартов» через ФГУП «Стандартинформ» стоит 20 000 рублей.
При заказе демонстрации Вы получите доступ к его электронной версии совершенно бесплатно!
