
Вы нашли документ, содержащийся в электронной базе документов - "ТЕХЭКСПЕРТ"!
ГОСТ 18986.0-74 Диоды полупроводниковые. Методы измерения электрических параметров. Общие положения (с Изменениями N 1, 2)
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
- Техэксперт: Нормы, правила, стандарты и законодательство России
- Техэксперт: Машиностроительный комплекс
- Техэксперт: Нефтегазовый комплекс
- Техэксперт: Электроэнергетика
- Техэксперт: Охрана труда
- Авиатор
- Техэксперт: Эксплуатация зданий
- Техэксперт: Экология. Проф
На него ссылаются
- В списке элементов: 14
- ГОСТ 18986.14-85 Диоды полупроводниковые. Методы измерения дифференциального и динамического сопротивлений
Неэквивалентен (NEQ) СТ СЭВ 2769:1980Применяется с 01.07.1986 взамен ГОСТ 18986.14-75, ГОСТ 19656.8-74 - ГОСТ 11630-84 (СТ СЭВ 300-76, СТ СЭВ 3992-83) Приборы полупроводниковые. Общие технические условия
Применяется с 01.07.1985 - ГОСТ 18986.23-80 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения спектральной плотности шума (с Изменением N 1)
(утв. постановлением Госстандарта СССР от 12.12.1980 N 5804)Применяется с 01.01.1982 - ГОСТ 19656.14-79 Диоды полупроводниковые СВЧ переключательные. Метод измерения критической частоты
(утв. постановлением Госстандарта СССР от 11.09.1979 N 3457)Применяется с 01.01.1981 - ГОСТ 18986.22-78 Стабилитроны полупроводниковые. Методы измерения дифференциального сопротивления (с Изменением N 1)
(утв. постановлением Госстандарта СССР от 18.07.1978 N 1939)Применяется с 01.01.1980 взамен ГОСТ 15603-70 - ГОСТ 18986.21-78 Стабилитроны и стабисторы полупроводниковые. Метод измерения временной нестабильности напряжения стабилизации
(утв. постановлением Госстандарта СССР от 18.07.1978 N 1939)Применяется с 01.01.1980 - ГОСТ 18986.13-74 Диоды полупроводниковые туннельные. Методы измерения пикового тока, тока впадины, пикового напряжения, напряжения впадины, напряжения раствора
Применяется с 01.07.1976 - ГОСТ 18986.10-74 Диоды полупроводниковые. Методы измерения индуктивности (с Изменениями N 1, 2)
Применяется с 01.07.1976 - ГОСТ 18986.9-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения импульсного прямого напряжения и времени прямого восстановления (с Изменениями N 1, 2, 3)
Неэквивалентен (NEQ) СТ СЭВ 3198:1981Применяется с 01.01.1975 взамен ГОСТ 10965-64 - ГОСТ 18986.8-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения времени обратного восстановления (с Изменениями N 1, 2)
Применяется с 01.01.1975 - ГОСТ 18986.3-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока (с Изменениями N 1, 2)
Идентичен (IDT) СТ СЭВ 2769:1980; IEC 147:2023Применяется с 01.01.1975 взамен ГОСТ 10961-64 - ГОСТ 18986.1-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного обратного тока (с Изменениями N 1, 2)
Идентичен (IDT) СТ СЭВ 2769:1980; IEC 147-2ВПрименяется с 01.01.1975 взамен ГОСТ 10963-64 - ГОСТ 18986.17-73 Стабилитроны полупроводниковые. Метод измерения температурного коэффициента напряжения стабилизации (с Изменением N 1, с Поправкой)
(утв. постановлением Госстандарта СССР от 10.04.1973 N 873)Неэквивалентен (NEQ) СТ СЭВ 3200:1981; IEC 147-2MПрименяется с 01.07.1974 - ГОСТ 18986.16-72 Диоды полупроводниковые выпрямительные. Методы измерения среднего значения прямого напряжения и среднего значения обратного тока (с Изменением N 1)
(утв. постановлением Госстандарта СССР от 28.09.1972 N 1807)Применяется с 01.01.1974
Скачать документ нельзя - можно заказать Бесплатно! 1 документ
Документ будет отправлен на указанный Вами e-mail в течение 3 рабочих дней*
Часы работы: с Пн по Пт с 8:30 до 17:30 по московскому времени.
или
Посмотреть возможности крупнейшей электронной библиотеки "Техэксперт" - более 8 000 000 документов!
Подписка на полную версию «Указателя стандартов» через ФГУП «Стандартинформ» стоит 20 000 рублей.
При заказе демонстрации Вы получите доступ к его электронной версии совершенно бесплатно!



