0 продуктов

Авторизация

Сканирующий зондовый атомно-силовой микроскоп

Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:


СКАНИРУЮЩИЙ ЗОНДОВЫЙ АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОП

Зондовый атомно-силовой микроскоп с нормированными метрологическими характеристиками, предназначенный для измерения линейных размеров элементов рельефа поверхности и/или расстояний между ними путем сканирования поверхности острием зонда.

"ГОСТ Р 8.630-2007 ГСИ. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые. Методика поверки (с Изменением N 1)" от 21.05.2007 г.


СКАНИРУЮЩИЙ ЗОНДОВЫЙ АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОП (МИКРОСКОП)

Зондовый атомно-силовой микроскоп с нормированными метрологическими характеристиками, формирующий информативный сигнал путем сканирования поверхности острием зонда.

"ГОСТ Р 8.700-2010 ГСИ. Методика измерений эффективной высоты шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа" от 05.04.2010 г.

Категории продуктов

 

 

 

Знакомьтесь, "Техэксперт"

 Техэксперт для iPad

 Для Android

АКЦИЯ!

Бесплатный доступ