0 продуктов

Авторизация

IEC 60749-5 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test - Edition 2.0

Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:

 

International Electrotechnical Commission

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test - Edition 2.0
 N 60749-5

 

Annotation

 

This part of IEC 60749 provides a steady-state temperature and humidity bias life test for the purpose of evaluating the reliability of non-hermetic packaged solid-state devices in humid environments.

This test method is considered destructive.

 

Автоматический перевод:

 

Полупроводниковые приборы - механические и климатические методы испытаний - Часть 5: установившиеся температуры и влажности смещения испытание жизни - издание 2.0

Эта часть стандарта IEC 60749 обеспечивает устойчивое состояние температуры и влажности смещения жизни тест для оценки надежности негерметичного заготовок полупроводниковых устройств в условиях повышенной влажности.

Данный метод испытаний является разрушительной.

 

 

Уважаемый пользователь!

 

Обратитесь к обслуживающему Вас представителю за дополнительной информацией о возможности приобретения документов указанного разработчика и заказа перевода.

Категории продуктов

 

 

 

Знакомьтесь, "Техэксперт"

 Техэксперт для iPad

 Для Android

АКЦИЯ!

Бесплатный доступ