DS DS/EN 62276 Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications – Specifications and measuring methods
DANSK - Dansk Standard
Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications – Specifications and measuring methods
N DS DS/EN 62276
Annotation
IEC 62276:2012 applies to the manufacture of synthetic quartz, lithium niobate (LN), lithium tantalate (LT), lithium tetraborate (LBO), and lanthanum gallium silicate (LGS) single crystal wafers intended for use as substrates in the manufacture of surface acoustic wave (SAW) filters and resonators. This edition includes the following significant technical changes with respect to the previous edition: – terms and definitions are rearranged in accordance with the alphabetical order; – 'reduced LN' is appended to terms and definitions; – 'reduced LT' is appended to terms and definitions; – reduction process is appended to terms and definitions.
Автоматический перевод:
Единственные кристаллические пластины для приложений устройства поверхностной акустической волны (SAW) – Спецификации и измеряющиеся методы
IEC 62276:2012 относится к изготовлению синтетического кварца, литиевого ниобата (LN), литиевого танталита (LT), лития tetraborate (LBO) и силикат галлия лантана (LGS) единственные кристаллические пластины, предназначенные для использования в качестве подложек в производстве фильтров поверхностной акустической волны (SAW) и резонаторов. Этот выпуск включает следующие значительные технические изменения относительно предыдущего выпуска: – условия и определения перестроены в соответствии с алфавитным порядком; – 'уменьшенный LN' добавляется к условиям и определениям; – 'уменьшенный LT' добавляется к условиям и определениям; – процесс сокращения добавляется к условиям и определениям.



