DLA SMD-5962-87628 REV G MICROCIRCUIT, DIGITAL, FAST CMOS, OCTAL NONINVERTING D-TYPE FLIP-FLOP WITH THREE-STATE OUTPUTS AND TTL COMPATIBLE INPUTS, MONOLITHIC SILICON
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
- Техэксперт: Машиностроительный комплекс
- Картотека зарубежных и международных стандартов
- ASTM D1039 Standard Test Methods for Glass-Bonded Mica Used as Electrical Insulation
- 29
- ASTM D1039 Standard Test Methods for Glass-Bonded Mica Used as Electrical Insulation
- 29.035
- ASTM D1039 Standard Test Methods for Glass-Bonded Mica Used as Electrical Insulation
- 29.035.50
- ASTM F105 Standard Specification for Type 58 Borosilicate Sealing Glass
- ASTM F140 Standard Practice for Making Reference Glass-Metal Butt Seals and Testing for Expansion Characteristics by Polarimetric Methods
- ASTM F79 Standard Specification for Type 101 Sealing Glass
- ASTM D257 Standard Test Methods for DC Resistance or Conductance of Insulating Materials
- ASTM F79 Standard Specification for Type 101 Sealing Glass
- ASTM F140 Standard Practice for Making Reference Glass-Metal Butt Seals and Testing for Expansion Characteristics by Polarimetric Methods
- ASTM F140 Standard Practice for Making Reference Glass-Metal Butt Seals and Testing for Expansion Characteristics by Polarimetric Methods
- ASTM F79 Standard Specification for Type 101 Sealing Glass
- ASTM D257 Standard Test Methods for DC Resistance or Conductance of Insulating Materials
- ASTM F79 Standard Specification for Type 101 Sealing Glass
- ASTM F79 Standard Specification for Type 101 Sealing Glass
- ASTM D257 Standard Test Methods for DC Resistance or Conductance of Insulating Materials
- ASTM D116 Standard Test Methods for Vitrified Ceramic Materials for Electrical Applications
- ASTM D2149 Standard Test Method for Permittivity (Dielectric Constant) And Dissipation Factor Of Solid Dielectrics At Frequencies To 10 MHz And Temperatures To 500°C
- ASTM D2442 Standard Specification for Alumina Ceramics for Electrical and Electronic Applications
- DLA MIL-STD-883K CHANGE 1 TEST METHOD STANDARD MICROCIRCUITS
- Картотека зарубежных и международных стандартов
CC - DLA Land and Maritime
MICROCIRCUIT, DIGITAL, FAST CMOS, OCTAL NONINVERTING D-TYPE FLIP-FLOP WITH THREE-STATE OUTPUTS AND TTL COMPATIBLE INPUTS, MONOLITHIC SILICON
N SMD-5962-87628 REV G
Annotation
This drawing describes device requirements for MIL-STD-883 compliant, non-JAN class level B microcircuits in accordance with MIL-PRF-38535, appendix A
Автоматический перевод:
МИКРОСХЕМА, ЦИФРОВОЙ, БЫСТРЫЙ CMOS, ОКТАЛЬНАЯ КОНВЕРТИРУЕМАЯ БУМАГА D-ТИПА НЕИНВЕРТИРОВАНИЯ С РЕЗУЛЬТАТАМИ С ТРЕМЯ ГОСУДАРСТВАМИ И СОВМЕСТИМЫМИ ВВОДАМИ TTL, МОНОЛИТНЫМ КРЕМНИЕМ
Этот рисунок описывает требования устройства для соответствующего MIL-STD-883, микросхемы уровня B класса не-JAN в соответствии с MIL-PRF-38535, приложением A
Уважаемый пользователь!
Обратитесь к обслуживающему Вас представителю за дополнительной информацией о возможности приобретения документов указанного разработчика и заказа перевода.
