ISO ISO/TR 18196 Nanotechnologies - Measurement technique matrix for the characterization of nano-objects - First Edition
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
- Техэксперт: Машиностроительный комплекс
- Картотека зарубежных и международных стандартов
- ASTM E2246 Standard Test Method for Strain Gradient Measurements of Thin, Reflecting Films Using an Optical Interferometer
- 37
- ASTM E2246 Standard Test Method for Strain Gradient Measurements of Thin, Reflecting Films Using an Optical Interferometer
- 37.040
- ASTM E2246 Standard Test Method for Strain Gradient Measurements of Thin, Reflecting Films Using an Optical Interferometer
- 37.040.20
- ASTM E2444 Terminology Relating to Measurements Taken on Thin, Reflecting Films
- 01
- ASTM E2444 Terminology Relating to Measurements Taken on Thin, Reflecting Films
- ASTM E2244 Standard Test Method for In-Plane Length Measurements of Thin, Reflecting Films Using an Optical Interferometer
- ASTM E2245 Standard Test Method for Residual Strain Measurements of Thin, Reflecting Films Using an Optical Interferometer
- ASTM E2530 Standard Practice for Calibrating the Z-Magnification of an Atomic Force Microscope at Subnanometer Displacement Levels Using Si (111) Monatomic Steps
- Картотека зарубежных и международных стандартов
International Organization for Standardization
Nanotechnologies - Measurement technique matrix for the characterization of nano-objects - First Edition
N ISO/TR 18196
Annotation
This document provides a matrix that guides users to commercially available techniques relevant to the measurements of common physiochemical parameters for nano-objects. Some techniques are also applicable to nanostructured materials.
NOTE Guidance on sample separation and preparation is given in Annex A.
Автоматический перевод:
Нанотехнологии - матрица Техники измерений для характеристики нанообъектов - Первый Выпуск
Этот документ обеспечивает матрицу, ведущую пользователей к коммерчески доступным методам, относящимся к измерениям общих physiochemical параметров для нанообъектов. Некоторые методы также применимы к наноструктурированным материалам.
Указания NOTE на типовом разделении и подготовке даются в приложении A.
Эквиваленты данного стандарта:



