0 продуктов

Авторизация

IEC 63003 Standard for the common test interface pin map configuration for high-density, single-tier electronics test requirements utilizing IEEE Std 1505 - Edition 1.0

Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:

 

International Electrotechnical Commission

Standard for the common test interface pin map configuration for high-density, single-tier electronics test requirements utilizing IEEE Std 1505 - Edition 1.0
 N 63003

 

Annotation

 

The scope of this standard is the definition of a pin map utilizing the IEEE 1505™ 1 receiver fixture interface (RFI). The pin map defined within this standard shall apply to military and aerospace automatic test equipment (ATE) testing applications.

Purpose

Standardization of a common input/output (I/O) will enable the interoperability of IEEE 1505 compliant interface fixtures [also known as interface test adapters (ITA), interface devices (IDs), or interconnecting devices (ICDs)] on multiple ATE systems utilizing the IEEE 1505 RFI.

 

Автоматический перевод:

 

Стандарт для общей испытательной интерфейсной булавки наносит на карту конфигурацию для одно-уровневых требований испытания электроники высокой плотности, использующих Станд. IEEE 1505 - Издание 1.0

Объем этого стандарта является определением карты контакта, использующей IEEE 1505™ 1 интерфейс крепления получателя (RFI). Карта контакта, определенная в рамках этого стандарта, должна относиться к военным и космическим приложениям тестирования оборудования автоматического тестирования (ATE).

Категории продуктов

 

 

 

Знакомьтесь, "Техэксперт"

 Техэксперт для iPad

 Для Android

АКЦИЯ!

Бесплатный доступ