International Organization for Standardization

Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Vocabulary - First Edition
 N 22493

Annotation

This International Standard defines terms used in the practice of scanning electron microscopy (SEM). It covers both general and specific concepts, classified according to their hierarchy in a systematic order, with those terms that have already been defined in ISO 23833 also included, where appropriate.

This International Standard is applicable to all standardization documents relevant to the practice of SEM. In addition, some clauses of this International Standard are applicable to documents relevant to related fields (e.g. EPMA, AEM, EDS) for the definition of terms which are relevant to such fields.

Автоматический перевод:

Анализ микролуча — Просмотр электронной микроскопии — Словаря - Первый Выпуск

Этот Международный стандарт определяет термины, использованные в практике просмотра электронной микроскопии (SEM). Это покрывает оба общих и частных понятия, классифицированные согласно их иерархии в систематическом заказе, с теми условиями, которые были уже определены в ISO 23833, также включенной, в соответствующих случаях.