0 продуктов

Авторизация

Дифракция отраженных электронов

Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:


ДИФРАКЦИЯ ОТРАЖЕННЫХ ЭЛЕКТРОНОВ

ДОЭ

electron backscatter diffraction; EBSD

Явление обратного рассеяния электронов, возникающее вследствие взаимодействия электронов с атомными плоскостями кристаллической решетки объекта, при облучении объекта электронным пучком.

[ISO 24173:2009, статья 3.7]

"ГОСТ ISO/TS 80004-6-2016 Нанотехнологии. Часть 6. Характеристики нанообъектов и методы их определения. Термины и определения" от 09.11.2016 г.


ДИФРАКЦИЯ ОТРАЖЕННЫХ ЭЛЕКТРОНОВ

ДОЭ: 

electron backscatter diffraction; EBSD

Категории продуктов

 

 

 

Знакомьтесь, "Техэксперт"

 Техэксперт для iPad

 Для Android

АКЦИЯ!

Бесплатный доступ