ЭЛЛИПСОМЕТРИЧЕСКАЯ МИКРОСКОПИЯ С УСИЛЕНИЕМ КОНТРАСТА ИЗОБРАЖЕНИЯ

ЭМУК

surface enhanced ellipsometric contrast microscopy; SEEC microscopy

Метод исследования объекта с помощью светового микроскопа с широкоугольной оптической системой, формирующего изображение путем усиления контраста изображения объекта скрещенными поляризаторами, позволяющими фиксировать отраженный от объекта свет и блокировать отраженный свет от подложки или предметного стекла.

Примечание - В микроскопе применяют специальные антиотражающие подложки, усиливающие контраст изображения и улучшающие разрешающую способность микроскопа в 100 раз.

"ГОСТ ISO/TS 80004-6-2016 Нанотехнологии. Часть 6. Характеристики нанообъектов и методы их определения. Термины и определения" от 09.11.2016 г.