Japanese Standards Association

Surface chemical analysis - Sputter depth profiling - Optimization using layered systems as reference materials
 N JIS K 0146

Автоматический перевод:

Поверхностный химический анализ - профилирование глубины Распылителя - Оптимизация с помощью выложенных слоями систем в качестве справочных материалов

Уважаемый пользователь!

Обратитесь к обслуживающему Вас представителю за дополнительной информацией о возможности приобретения документов указанного разработчика и заказа перевода.