0 продуктов

Авторизация

ISO 24173 Microbeam analysis — Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction - First Edition

Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:

 

International Organization for Standardization

Microbeam analysis — Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction - First Edition
 N 24173

 

Annotation

 

This International Standard gives advice on how to generate reliable and reproducible crystallographic orientation measurements using electron backscatter diffraction (EBSD). It addresses the requirements for specimen preparation, instrument configuration, instrument calibration and data acquisition.

 

Автоматический перевод:

 

Анализ микролуча — Рекомендации для измерения ориентации с помощью электронной дифракции обратного рассеяния - Первый Выпуск

Этот Международный стандарт дает совет относительно того, как генерировать надежные и восстанавливаемые измерения кристаллографической ориентации с помощью электронной дифракции обратного рассеяния (EBSD). Это удовлетворяет требования для подготовки к экземпляру, конфигурации инструмента, калибровки инструмента и сбора данных.

 

 

Уважаемый пользователь!

Категории продуктов

 

 

 

Знакомьтесь, "Техэксперт"

 Техэксперт для iPad

 Для Android

АКЦИЯ!

Бесплатный доступ