0 продуктов

Авторизация

JSA JIS K 0189 Microbeam analysis - Electron probe microanalysis - Determination of experimental parameters for wavelength dispersive X-ray spectroscopy

Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:

 

Japanese Standards Association

Microbeam analysis - Electron probe microanalysis - Determination of experimental parameters for wavelength dispersive X-ray spectroscopy
 N JIS K 0189

 

Автоматический перевод:

 

Анализ микролуча - Электрон исследует микроанализ - Определение экспериментальных параметров для длины волны дисперсионная Рентгеновская спектроскопия

 

 

Уважаемый пользователь!

 

Обратитесь к обслуживающему Вас представителю за дополнительной информацией о возможности приобретения документов указанного разработчика и заказа перевода.

Категории продуктов

 

 

 

Знакомьтесь, "Техэксперт"

 Техэксперт для iPad

 Для Android

АКЦИЯ!

Бесплатный доступ