International Organization for Standardization

Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Repeatability and constancy of the relative-intensity scale in static secondary-ion mass spectrometry - First Edition
 N 23830

Annotation

This International Standard specifies a method for confirming the repeatability and constancy of the positive-ion relative-intensity scale of static secondary-ion mass spectrometers, for general analytical purposes. It is only applicable to instruments that incorporate an electron gun for charge neutralization. It is not intended to be a calibration of the intensity/mass response function. That calibration may be made by the instrument manufacturer or another organization. The present method provides data to confirm the constancy of relative intensities with instrument usage. Guidance is given on some of the instrument settings that may affect this constancy.

Автоматический перевод:

Поверхностный химический анализ - масс-спектрометрия Вторичного иона - Воспроизводимость и постоянство относительной интенсивности измеряет в статической масс-спектрометрии вторичного иона - Первый Выпуск

Этот Международный стандарт определяет метод для подтверждения воспроизводимости и постоянства масштаба относительной интенсивности положительного иона статических масс-спектрометров вторичного иона в общих аналитических целях. Это только применимо к инструментам, включающим электронную пушку для нейтрализации обвинения. Это не предназначается, чтобы быть калибровкой функции ответа интенсивности/массы. Та калибровка может быть сделана производителем инструмента или другой организацией. Настоящий метод обеспечивает данные для подтверждения постоянства относительной интенсивности с использованием инструмента. Указания даются на некоторые параметры настройки инструмента, которые могут влиять на это постоянство.