JSA JIS K 0167 Surface chemical analysis - Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy - Guide to the use of experimentally determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Japanese Standards Association
Surface chemical analysis - Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy - Guide to the use of experimentally determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials
N JIS K 0167
Автоматический перевод:
Поверхностный химический анализ - спектроскопия Оже-электрона и фотоэлектронная спектроскопия Рентгеновских лучей - Справочник по использованию экспериментально решительных относительных факторов чувствительности для количественного анализа гомогенных материалов
Эквиваленты данного стандарта:
- ISO 18118 Surface chemical analysis - Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy - Guide to the use of experimentally determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials - Second Edition
- BSI BS ISO 18118 Surface chemical analysis — Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy — Guide to the use of experimentally determined relative sensitivity factors for the quantitative analysis of homogeneous materials
Уважаемый пользователь!
Обратитесь к обслуживающему Вас представителю за дополнительной информацией о возможности приобретения документов указанного разработчика и заказа перевода.
