British Standards Institution

Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Method for estimating depth resolution parameters with multiple delta-layer reference materials
 N BS ISO 20341

Автоматический перевод:

Поверхностный химический анализ - масс-спектрометрия Вторичного иона - Метод для оценки параметров резолюции глубины с многократными справочными материалами слоя дельты

Уважаемый пользователь!

Обратитесь к обслуживающему Вас представителю за дополнительной информацией о возможности приобретения документов указанного разработчика и заказа перевода.