International Organization for Standardization

Surface chemical analysis - Electron spectroscopies - Minimum reporting requirements for peak fitting in X-ray photoelectron spectroscopy - First Edition
 N 19830

Annotation

The purpose of this International Standard is to define how peak fitting and the results of peak fitting in X-ray photoelectron spectroscopy shall be reported. It is applicable to the fitting of a single spectrum or to a set of related spectra, as might be acquired, for example, during a depth profile measurement. This International Standard provides a list of those parameters which shall be reported if either reproducible peak fitting is to be achieved or a number of spectra are to be fitted and the fitted spectra compared. This International Standard does not provide instructions for peak fitting nor the procedures which should be adopted

Автоматический перевод:

Поверхностный химический анализ - Электронные спектроскопии - Минимальные требования к отчетности для пика, помещающегося в фотоэлектронную спектроскопию Рентгеновских лучей - Первый Выпуск

Цель этого Международного стандарта состоит в том, чтобы определить, как о пиковой адаптации и результатах пика, помещающегося в фотоэлектронную спектроскопию Рентгеновских лучей, нужно сообщить. Это применимо к адаптации единственного спектра или к ряду связанных спектров, как мог бы быть приобретен, например, во время измерения профиля глубины. Этот Международный стандарт предоставляет список тех параметров, о которых нужно сообщить, если или восстанавливаемая пиковая адаптация должна быть достигнута или много спектров, должны быть адаптированы и подходящие сравненные спектры. Этот Международный стандарт не предоставляет инструкции для пиковой адаптации, ни процедуры, которые должны быть приняты