British Standards Institution

Evaluation of thickness, density and interface width of thin films by X-ray reflectometry - Instrumental requirements, alignment and positioning, data collection, data analysis and reporting
 N BS ISO 16413

Автоматический перевод:

Оценка толщины, плотности и интерфейса width тонких пленок рефлектометрией рентгена - Инструментальные требования, согласование и расположение, сбор данных, анализ данных и создание отчетов

Эквиваленты данного стандарта:

• ISO 16413 Evaluation of thickness, density and interface width of thin films by X-ray reflectometry - Instrumental requirements, alignment and positioning, data collection, data analysis and reporting - First Edition

Уважаемый пользователь!

Обратитесь к обслуживающему Вас представителю за дополнительной информацией о возможности приобретения документов указанного разработчика и заказа перевода.