CENELEC EN 60749-3 Semiconductor Devices Mechanical and Climatic Test Methods Part 3: External Visual Examination
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
European Committee for Electrotechnical Standardization
Semiconductor Devices Mechanical and Climatic Test Methods Part 3: External Visual Examination
N EN 60749-3
Автоматический перевод:
Полупроводниковые устройства механическая и климатическая часть 3 методов тестирования: внешнее визуальное исследование
Эквиваленты данного стандарта:
- IEC 60749-3 CORR 1 SEMICONDUCTOR DEVICES – MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS – Part 3: External visual examination CORRIGENDUM 1 - Edition 1.0
- BSI BS EN 60749-3 Semiconductor Devices Mechanical and Climatic Test Methods Part 3: External Visual Examination - CORR 14110: September 17, 2002
- AENOR UNE-EN 60749-3 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 3: External visual examination.
Уважаемый пользователь!
Обратитесь к обслуживающему Вас представителю за дополнительной информацией о возможности приобретения документов указанного разработчика и заказа перевода.
