CENELEC EN 62415 Semiconductor devices - Constant current electromigration test
European Committee for Electrotechnical Standardization
Semiconductor devices - Constant current electromigration test
N EN 62415
Annotation
This standard describes a method for conventional constant current electromigration testing of metal lines, via string and contacts.
Автоматический перевод:
Полупроводниковые устройства - тест электромиграции Постоянного тока
Этот стандарт описывает метод для стандартного тестирования электромиграции постоянного тока металлических строк через строку и контакты.
Эквиваленты данного стандарта:
- BSI BS EN 62415 Semiconductor devices - Constant current electromigration test
- IEC 62415 Semiconductor devices – Constant current electromigration test - Edition 1.0
Уважаемый пользователь!
Обратитесь к обслуживающему Вас представителю за дополнительной информацией о возможности приобретения документов указанного разработчика и заказа перевода.
