BSI BS EN 62415 Semiconductor devices - Constant current electromigration test
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
British Standards Institution
Semiconductor devices - Constant current electromigration test
N BS EN 62415
Автоматический перевод:
Полупроводниковые устройства - тест электромиграции Постоянного тока
Эквиваленты данного стандарта:
- CENELEC EN 62415 Semiconductor devices - Constant current electromigration test
- IEC 62415 Semiconductor devices – Constant current electromigration test - Edition 1.0
Уважаемый пользователь!
Обратитесь к обслуживающему Вас представителю за дополнительной информацией о возможности приобретения документов указанного разработчика и заказа перевода.
