0 продуктов

Авторизация

JSA JIS K 0149-1 Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Guidelines for calibrating image magnification

Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:

 

Japanese Standards Association

Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Guidelines for calibrating image magnification
 N JIS K 0149-1

 

Автоматический перевод:

 

Анализ микропучка - Развертывающая электронная микроскопия - Инструкции для калибровки увеличения изображения

 

Эквиваленты данного стандарта:

 

 

Уважаемый пользователь!

 

Обратитесь к обслуживающему Вас представителю за дополнительной информацией о возможности приобретения документов указанного разработчика и заказа перевода.

Категории продуктов

 

 

 

Знакомьтесь, "Техэксперт"

 Техэксперт для iPad

 Для Android

АКЦИЯ!

Бесплатный доступ