0 продуктов

Авторизация

DS DS/EN 62878-1-1 Device embedded substrate - Part 1-1: Generic specification - Test methods

Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:

 

DANSK - Dansk Standard

Device embedded substrate - Part 1-1: Generic specification - Test methods
 N DS/EN 62878-1-1

 

Annotation

 

IEC 62878-1-1:2015 specifies the test methods of passive and active device embedded substrates. The basic test methods of printed wiring substrate materials and substrates themselves are specified in IEC 61189-3. This part of IEC 62878 is applicable to device embedded substrates fabricated by use of organic base material, which include for example active or passive devices, discrete components formed in the fabrication process of electronic wiring board, and sheet formed components.

 

Автоматический перевод:

 

Устройство встроило подложку - Часть 1-1: Универсальная спецификация - Методы тестирования

IEC 62878-1-1:2015 определяет, что методы тестирования пассивного и активного устройства встроили подложки. Методы базового теста печатных материалов подложки проводного соединения и самих подложек определяются в IEC 61189-3. Эта часть IEC 62878 применима к встроенным подложкам устройства, произведенным при помощи органического основного материала, которые включают, например, активные или пассивные устройства, дискретные компоненты, сформированные в процессе производства электронной монтажной панели, и покрывают сформированные компоненты.

Категории продуктов

 

 

 

Знакомьтесь, "Техэксперт"

 Техэксперт для iPad

 Для Android

АКЦИЯ!

Бесплатный доступ