IEC 62374-1 Semiconductor devices – Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers - Edition 1.0
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
- Техэксперт: Машиностроительный комплекс
- Картотека зарубежных и международных стандартов
- IEC TS 62686-1 Process management for avionics – Electronic components for aerospace, defence and high performance (ADHP) applications – Part 1: General requirements for high reliability integrated circuits and discrete semiconductors - Edition 1.0
- 03
- IEC TS 62686-1 Process management for avionics – Electronic components for aerospace, defence and high performance (ADHP) applications – Part 1: General requirements for high reliability integrated circuits and discrete semiconductors - Edition 1.0
- 03.100
- 31
- 49
- Картотека зарубежных и международных стандартов
International Electrotechnical Commission
Semiconductor devices – Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers - Edition 1.0
N 62374-1
Annotation
This part of IEC 62374 describes a test method, test structure and lifetime estimation method of the time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers applied in semiconductor devices.
Автоматический перевод:
Полупроводниковые устройства – Часть 1: тест пробоя диэлектрика с временной зависимостью (TDDB) для межслоев металла - Выпуск 1.0
Эта часть IEC 62374 описывает метод тестирования, тестовую структуру и пожизненный метод оценки теста пробоя диэлектрика с временной зависимостью (TDDB) для межслоев металла, примененных в полупроводниковых устройствах.
Эквиваленты данного стандарта:
- CENELEC EN 62374-1 Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers - Incorporating Corrigendum April 2011
- BSI BS EN 62374-1 Semiconductor devices Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers - CORR: June 30, 2011
- CEI EN 62374-1 Semiconductor devices Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers
