European Committee for Electrotechnical Standardization

Semiconductor devices - Hot carrier test on MOS transistors
 N EN 62416

Annotation

This standard describes the wafer level hot carrier test on NMOS and PMOS transistors. The test is intended to determine whether the single transistors in a certain (C)MOS process meet the required hot carrier lifetime.

Автоматический перевод:

Полупроводниковые устройства - Горячий тест поставщика услуг на МОП-транзисторах

Этот стандарт описывает слоистый уровень горячий тест поставщика услуг на транзисторах PMOS и NMOS. Тест предназначается, чтобы определить, встречают ли единственные транзисторы в определенном (C) процессе MOS требуемое жаркое время жизни поставщика услуг.

Эквиваленты данного стандарта:

• BSI BS EN 62416 Semiconductor devices - Hot carrier test on MOS transistors
• IEC 62416 Semiconductor devices – Hot carrier test on MOS transistors - Edition 1.0