AENOR UNE-EN 60749-5 Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Asociacion Espanola de Normalizacion y Certificacion
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test
N UNE-EN 60749-5
Автоматический перевод:
Полупроводниковые устройства. Механические и климатические методы тестирования. Часть 5: влажность Температуры установившегося процесса смещает испытания на долговечность
Эквиваленты данного стандарта:
- IEC 60749-5 Semiconductor Devices - Mechanical and Climatic Test Methods - Part 5: Steady-State Temperature Humidity Bias Life Test - Edition 1.0; Replaces IEC/PAS 62161
- CENELEC EN 60749-5 Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test
Уважаемый пользователь!
Обратитесь к обслуживающему Вас представителю за дополнительной информацией о возможности приобретения документов указанного разработчика и заказа перевода.
