AENOR UNE-EN 60749-6 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 6: Storage at high temperature.
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Asociacion Espanola de Normalizacion y Certificacion
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 6: Storage at high temperature.
N UNE-EN 60749-6
Автоматический перевод:
Полупроводниковые устройства - Механические и климатические методы тестирования - Часть 6: Устройство хранения данных при высокой температуре.
Эквиваленты данного стандарта:
- CENELEC EN 60749-6 Semiconductor Devices Mechanical and Climatic Test Methods Part 6: Storage at High Temperature
- IEC 60749-6 CORR 1 SEMICONDUCTOR DEVICES – MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS – Part 6: Storage at high temperature CORRIGENDUM 1 - Edition 1.0
Уважаемый пользователь!
Обратитесь к обслуживающему Вас представителю за дополнительной информацией о возможности приобретения документов указанного разработчика и заказа перевода.
