BSI BS EN 62418 Semiconductor devices - Metallization stress void test
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
British Standards Institution
Semiconductor devices - Metallization stress void test
N BS EN 62418
Автоматический перевод:
Полупроводниковые устройства - напряжение Металлизации освобождает тест
Эквиваленты данного стандарта:
- CENELEC EN 62418 Semiconductor devices - Metallization stress void test
- IEC 62418 Semiconductor devices – Metallization stress void test - Edition 1.0
Уважаемый пользователь!
Обратитесь к обслуживающему Вас представителю за дополнительной информацией о возможности приобретения документов указанного разработчика и заказа перевода.
