BSI BS EN 62374-1 Semiconductor devices Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers - CORR: June 30, 2011
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
British Standards Institution
Semiconductor devices Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers - CORR: June 30, 2011
N BS EN 62374-1
Автоматический перевод:
Полупроводниковая Часть 1 устройств: тест пробоя диэлектрика с временной зависимостью (TDDB) для межслоев металла - CORR: 30 июня 2011
Эквиваленты данного стандарта:
Уважаемый пользователь!
Обратитесь к обслуживающему Вас представителю за дополнительной информацией о возможности приобретения документов указанного разработчика и заказа перевода.
