BSI BS EN 60749-4 Semiconductor Devices - Mechanical and Climatic Test Methods - Part 4: Damp Heat, Steady State, Highly Accelerated Stress Test (HAST)

Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:

Техэксперт: Машиностроительный комплекс
- Картотека зарубежных и международных стандартов

British Standards Institution

Semiconductor Devices - Mechanical and Climatic Test Methods - Part 4: Damp Heat, Steady State, Highly Accelerated Stress Test (HAST)
N BS EN 60749-4

Автоматический перевод:

Полупроводниковые устройства - механические и климатические методы тестирования - часть 4: влажное тепло, устойчивое состояние, Высоко ускоренный тест напряжения (HAST)

Эквиваленты данного стандарта:

AENOR UNE-EN 60749-4 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST).

Уважаемый пользователь!

Обратитесь к обслуживающему Вас представителю за дополнительной информацией о возможности приобретения документов указанного разработчика и заказа перевода.

BSI BS EN 60749-4 Semiconductor Devices - Mechanical and Climatic Test Methods - Part 4: Damp Heat, Steady State, Highly Accelerated Stress Test (HAST)

Категории продуктов

Знакомьтесь, "Техэксперт"

АКЦИЯ!

Авторизация

BSI BS EN 60749-4 Semiconductor Devices - Mechanical and Climatic Test Methods - Part 4: Damp Heat, Steady State, Highly Accelerated Stress Test (HAST)

Категории продуктов

Знакомьтесь, "Техэксперт"

АКЦИЯ!