Asociacion Espanola de Normalizacion y Certificacion

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 3: External visual examination.
 N UNE-EN 60749-3

Автоматический перевод:

Полупроводниковые устройства - Механические и климатические методы тестирования - Часть 3: Внешнее визуальное исследование.

Эквиваленты данного стандарта:

• IEC 60749-3 CORR 1 SEMICONDUCTOR DEVICES – MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS – Part 3: External visual examination CORRIGENDUM 1 - Edition 1.0

Уважаемый пользователь!

Обратитесь к обслуживающему Вас представителю за дополнительной информацией о возможности приобретения документов указанного разработчика и заказа перевода.