IEC 62416 Semiconductor devices – Hot carrier test on MOS transistors - Edition 1.0
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
- Техэксперт: Машиностроительный комплекс
- Картотека зарубежных и международных стандартов
- IEC TS 62686-1 Process management for avionics – Electronic components for aerospace, defence and high performance (ADHP) applications – Part 1: General requirements for high reliability integrated circuits and discrete semiconductors - Edition 1.0
- 03
- IEC TS 62686-1 Process management for avionics – Electronic components for aerospace, defence and high performance (ADHP) applications – Part 1: General requirements for high reliability integrated circuits and discrete semiconductors - Edition 1.0
- 03.100
- 31
- 49
- Картотека зарубежных и международных стандартов
International Electrotechnical Commission
Semiconductor devices – Hot carrier test on MOS transistors - Edition 1.0
N 62416
Annotation
This standard describes the wafer level hot carrier test on NMOS and PMOS transistors. The test is intended to determine whether the single transistors in a certain (C)MOS process meet the required hot carrier lifetime.
Автоматический перевод:
Полупроводниковые устройства – Горячий тест поставщика услуг на МОП-транзисторах - Выпуск 1.0
Этот стандарт описывает слоистый уровень горячий тест поставщика услуг на транзисторах PMOS и NMOS. Тест предназначается, чтобы определить, встречают ли единственные транзисторы в определенном (C) процессе MOS требуемое жаркое время жизни поставщика услуг.
Эквиваленты данного стандарта:
- BSI BS EN 62416 Semiconductor devices - Hot carrier test on MOS transistors
- CENELEC EN 62416 Semiconductor devices - Hot carrier test on MOS transistors
