CENELEC EN 61967-8 Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 8: Measurement of radiated emissions - IC stripline method
European Committee for Electrotechnical Standardization
Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions - Part 8: Measurement of radiated emissions - IC stripline method
N EN 61967-8
Annotation
The measurement procedure of this part of IEC 61967 defines a method for measuring the electromagnetic radiated emission from an integrated circuit (IC) using an IC stripline in the frequency range of 150 kHz up to 3 GHz. The IC being evaluated is mounted on an EMC test board (PCB) between the active conductor and the ground plane of the IC stripline arrangement.
Автоматический перевод:
Интегральные схемы - Измерение электромагнитной эмиссии - Часть 8: Измерение излученной эмиссии - полосковый метод IC
Измерительная процедура этой части IEC 61967 определяет метод для измерения электромагнитной излученной эмиссии интегральной схемы (IC) с помощью полосковой линии IC в частотном диапазоне 150 кГц до 3 ГГц. Оцениваемый IC смонтирован на тестовой плате EMC (PCB) между активным проводником и измельченной плоскостью полоскового расположения IC.
Эквиваленты данного стандарта:
