AENOR UNE-EN 60749-17 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 17: Neutron irradiation
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Asociacion Espanola de Normalizacion y Certificacion
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 17: Neutron irradiation
N UNE-EN 60749-17
Автоматический перевод:
Полупроводниковые устройства - Механические и климатические методы тестирования - Часть 17: Нейтронное облучение
Эквиваленты данного стандарта:
- CENELEC EN 60749-17 Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods Part 17: Neutron irradiation
- IEC 60749-17 Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods Part 17: Neutron irradiation - Edition 1.0
Уважаемый пользователь!
Обратитесь к обслуживающему Вас представителю за дополнительной информацией о возможности приобретения документов указанного разработчика и заказа перевода.
