IEC 60747-5-3 Discrete semiconductor devices and integrated circuits – Part 5-3: Optoelectronic devices – Measuring methods - Edition 1.1 Consolidated Reprint
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
- Техэксперт: Машиностроительный комплекс
- Картотека зарубежных и международных стандартов
- JSA JIS C 5942 General rules of laser diodes used for recording and playback
- 31
- 33
- IEC 62007-2 Semiconductor optoelectronic devices for fibre optic system applications – Part 2: Measuring methods - Edition 2.0
- JSA JIS C 5943 Measuring methods of laser diodes used for recording and playback
- Картотека зарубежных и международных стандартов
International Electrotechnical Commission
Discrete semiconductor devices and integrated circuits – Part 5-3: Optoelectronic devices – Measuring methods - Edition 1.1 Consolidated Reprint
N 60747-5-3
Annotation
This part of IEC 60747 describes the measuring methods applicable to the optoelectronic devices which are not intended to be used in the fibre optic systems or subsystems.
Автоматический перевод:
Дискретные полупроводниковые устройства и интегральные схемы – Часть 5-3: Оптоэлектронные устройства – Измеряющиеся методы - Выпуск 1.1 Объединенная Перепечатка
Эта часть IEC 60747 описывает методы измерения, применимые к оптоэлектронным устройствам, не предназначающимся, чтобы использоваться в волоконно-оптических системах или крупных узлах системы.
Уважаемый пользователь!
Обратитесь к обслуживающему Вас представителю за дополнительной информацией о возможности приобретения документов указанного разработчика и заказа перевода.
