International Electrotechnical Commission

Semiconductor devices – Mechanical and climatic test methods – Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases - Edition 2.0
 N 60749-7

Annotation

This International Standard specifies the testing and measurement of water vapour and other gas content of the atmosphere inside a metal or ceramic hermetically sealed device. The test is used as a measure of the quality of the sealing process and to provide information about the long-term chemical stability of the atmosphere inside the package. It is applicable to semiconductor devices sealed in such a manner but generally only used for high reliability applications such as military or aerospace. This test is destructive.

Автоматический перевод:

Полупроводниковые устройства – Механические и климатические методы тестирования – Часть 7: Внутреннее измерение влажности и анализ других остаточных газов - Выпуск 2.0

Этот Международный стандарт определяет тестирование и измерение водяного пара и другое содержание газа атмосферы в металлическом или керамическом герметично изолированном устройстве. Тест используется в качестве меры качества процесса изоляции и предоставить информацию о долгосрочной химостойкости атмосферы в пакете. Это применимо к полупроводниковым устройствам, впаял такой способ, но обычно только использовал для высоких приложений надежности, таких как вооруженные силы или космос. Этот тест является разрушительным.