0 продуктов

Авторизация

DIN EN 60749-7 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases (IEC 60749-7:2011)

Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:

 

Deutsches Institut fur Normung e. V.

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases (IEC 60749-7:2011)
 N EN 60749-7

 

Автоматический перевод:

 

Полупроводниковые устройства - Механические и климатические методы тестирования - Часть 7: Внутреннее измерение влажности и анализ других остаточных газов (60749-7:2011 IEC)

Этот документ устанавливает измерение или проверку зарплаты водяного пара и других газов во внутренней атмосфере комплектующего изделия с герметично запертыми металлическими корпусами или керамическими корпусами. Проверка используется как признак качества процесса в отношении герметичной герметизации и поставляет информацию о химической долговременной стабильности атмосферы во внутренней части корпусов. Этот процесс при всех полупроводниковых элементах, которые монтируются с такой технологией корпуса, применимо, разумеется, это применяется в общем только для приложений высокой надежности как для армейской области и области космического полета. Этот метод испытания разрушает.

 

 

Категории продуктов

 

 

 

Знакомьтесь, "Техэксперт"

 Техэксперт для iPad

 Для Android

АКЦИЯ!

Бесплатный доступ