International Organization for Standardization

Optics and photonics - Measurement method of semiconductor lasers for sensing - First Edition
 N TS 17915

Annotation

This Technical Specification describes methods of measuring temperature, injected current dependence and lasing spectral line width in relation to semiconductor lasers for sensing applications. This Technical Specification is applicable to all kinds of semiconductor lasers, such as edge-emitting type and vertical cavity surface emitting type lasers, bulk-type and (strained) quantum well lasers, and quantum cascade lasers, used for optical sensing in e.g. industrial, medical and agricultural fields. This Technical Specification is an application of ISO 13695, in which the physical bases are explained.

Автоматический перевод:

Оптика и фотоника - Метод измерения полупроводниковых лазеров для обнаружения - Первый Выпуск

Эта Техническая спецификация описывает методы измерения температуры, ввел текущую зависимость и лазерную генерацию ширины линии спектра относительно полупроводниковых лазеров для обнаружения приложений. Эта Техническая спецификация применима ко всем видам полупроводниковых лазеров, такова как испускающая край типовая и вертикальная поверхность полости, испускающая типовые лазеры, объемный тип и (напряженный) квант хорошие лазеры и квантовые каскадные лазеры, используемые для оптического считывания в, например, промышленных, медицинских и сельскохозяйственных полей. Эта Техническая спецификация является приложением ISO 13695, в котором объяснены физические основы.