BSI BS EN 60749-16 Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods Part 16: Particle impact noise detection (PIND) - CORR 15224: June 24, 2004
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
British Standards Institution
Semiconductor devices Mechanical and climatic test methods Part 16: Particle impact noise detection (PIND) - CORR 15224: June 24, 2004
N BS EN 60749-16
Автоматический перевод:
Полупроводниковые устройства Механическая и климатическая Часть 16 методов тестирования: обнаружение шума влияния частицы (PIND) - CORR 15224: 24 июня 2004
Эквиваленты данного стандарта:
Уважаемый пользователь!
Обратитесь к обслуживающему Вас представителю за дополнительной информацией о возможности приобретения документов указанного разработчика и заказа перевода.
