AENOR UNE-EN 60749-14 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 14: Robustness of terminations (lead integrity)
Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Данный раздел/документ содержится в продуктах:
Asociacion Espanola de Normalizacion y Certificacion
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 14: Robustness of terminations (lead integrity)
N UNE-EN 60749-14
Автоматический перевод:
Полупроводниковые устройства - Механические и климатические методы тестирования - Часть 14: Устойчивость завершений (целостность вывода)
Уважаемый пользователь!
Обратитесь к обслуживающему Вас представителю за дополнительной информацией о возможности приобретения документов указанного разработчика и заказа перевода.



