0 продуктов

Авторизация

AENOR UNE-EN 60749-14 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 14: Robustness of terminations (lead integrity)

Список продуктов
Данный раздел/документ содержится в продуктах:

 

Asociacion Espanola de Normalizacion y Certificacion

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods -- Part 14: Robustness of terminations (lead integrity)
 N UNE-EN 60749-14

 

Автоматический перевод:

 

Полупроводниковые устройства - Механические и климатические методы тестирования - Часть 14: Устойчивость завершений (целостность вывода)

 

 

Уважаемый пользователь!

 

Обратитесь к обслуживающему Вас представителю за дополнительной информацией о возможности приобретения документов указанного разработчика и заказа перевода.

Категории продуктов

 

 

 

Знакомьтесь, "Техэксперт"

 Техэксперт для iPad

 Для Android

АКЦИЯ!

Бесплатный доступ